Produktoversigt
MPC Semiconductor Inspection Equipment er et fuldt automatisk retningsbestemt tørstøvfjerningssystem til CMOS -billedsensorer. Det er udstyret med et kamera med høj opløsning, der kan identificere ultrafine partikel udenlandske stoffer og guide støvpindningsmekanismen til at udføre højpræcisionsretningstøvfjernelse. Det kan fjerne fremmede stoffer, der er større end 700 nm på underlaget/sensoren. Maskinen er udstyret med et højhastigheds-servomodul. Enkelt/dobbeltstationer kan vælges i henhold til produktionskapaciteten. Den maksimale produktionskapacitet er større end 5000 stk/h. Det kan udsende rapporter og generere kortdiagrammer. På samme tid kan dataene uploades til kundens MES -system.
Produktfunktioner
Delvis detektion og rengøring, DB -detektion
Produktegenskaber
Baseline: (36 stk/bakke, 10% støvhastighed)
Single Station: >2500pcs/h; Double Station: >5000stcs/h
MPC Micron Particle Cleaner System (til CMOS -billedsensorer) kontrollerer automatisk og identificerer nøjagtigt
Tørrensning, restfri, ingen forurening
Semiconductor Inspection Equipment Inspection Process
Produktapplikation
● halvleder (optisk modul, skive)
● Halvlederemballage og testindustri (sensor, IR -filter, IC -test, fingeraftryksmodul)
MPC-halvlederinspektionsudstyret kan forbedre produktionseffektiviteten og udbyttet markant, erstatte traditionel manuel prøveudtagning og er især velegnet til batchfremstilling af høje værditilvækstprodukter. Hvis du har brug for en mere effektiv løsning, skal du konsultere Huizhou Zhongke Advanced Manufacturing Co., Ltd.
Populære tags: Semiconductor Inspection Equipment, Producenter af Semiconductor Inspection Equipment, leverandører, fabrik
Tekniske parametre
● Detection Accuracy: >0.6μm
● Floating Dust Removal Rate: >99.9%
Produktspecifikation
|
Ekstern størrelse |
W1200mm*D1100mm*H1850mm |
|
Vægt |
1000 kg |
